BHAST偏压加速老化试验箱，适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设...

PCB-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1...

HAST半导体高加速应力测试箱BHAST实验箱，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1...

HAST高加速老化测试系统，高加速应力测试（HAST）结合了高温、高湿度、高压和时间，以测量元件的可靠性，无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传...

CAF-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化，是一种可信赖性的试验设备，原理是印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路...

HAST离子迁移CAF绝缘电阻劣化评估系统，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1...

微波器件高加速寿命偏压老化测试系统HAST，微波器件高加速寿命偏压老化测试系统是一种用于评估微波器件在很差条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏...

BHAST温湿度偏压高加速应力测试 HAST试验箱，BHAST温湿度偏压高加速应力测试，bHAST温湿度偏压高加速应力测试（Bias Highly Accele...

Bias-HAST高加速老化 偏压老化测试系统，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1...

HAST高加速老化寿命试验箱，试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产...

HAST半导体高加速立式偏压应力老化试验箱，HAST高加速寿命试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿...

HAST高加速老化寿命PCB老化试验箱，试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，...